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Design enablement for yield and area optimization at 20 nm and below

Title: Design enablement for yield and area optimization at 20 nm and below
Authors: Brotman, Andrew; Capodieci, Luigi; Liu, Bill; Rashed, Mahbub; Kye, Jongwook; Kengeri, Subramani; Venkatesan, Suresh
Source: 2011 Symposium on VLSI Technology - Digest of Technical Papers VLSI Technology (VLSIT), 2011 Symposium on. :108-109 Jun, 2011
Relation: 2011 IEEE Symposium on VLSI Technology
Database: IEEE Xplore Digital Library