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High speed replication of sub-micron features on large areas by X-ray lithography

Title: High speed replication of sub-micron features on large areas by X-ray lithography
Authors: Maydan, D.; Coquin, G. A.; Maldonado, J. R.; Somekh, S.; Lou, D. Y.; Taylor, G. N.
Source: 1974 International Electron Devices Meeting (IEDM) IEDM Tech. Dig. Electron Devices Meeting (IEDM), 1974 International. :18-20 Dec, 1974
Relation: 1974 International Electron Devices Meeting (IEDM)
Database: IEEE Xplore Digital Library