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Evaluation of Enhanced Low Dose Rate Sensitivity in Discrete Bipolar Junction Transistors

Title: Evaluation of Enhanced Low Dose Rate Sensitivity in Discrete Bipolar Junction Transistors
Authors: Chen, Dakai; Topper, Alyson; Forney, James; Triggs, Brian; Kazmakites, Tony; Pease, Ronald; Ladbury, Raymond; LaBel, Kenneth
Source: 2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop Radiation Effects Data Workshop (REDW), 2012 IEEE. :1-7 Jul, 2012
Relation: 2012 IEEE Radiation Effects Data Workshop (in conjunction with NSREC 2012)
Database: IEEE Xplore Digital Library