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The influence of void configuration in statistical parameters of partial discharge signals

Title: The influence of void configuration in statistical parameters of partial discharge signals
Authors: Macedo, Euler C. T.; Villanueva, Juan M. Mauricio; Guedes, Edson C.; Freire, Raimundo C. S.; de Souza Neto, J. M. R.; Glover, I. A.
Source: 2013 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC) Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC), 2013 IEEE International. :952-956 May, 2013
Relation: 2013 IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference (I2MTC)
Database: IEEE Xplore Digital Library