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Effect of barrier geometry for HTS ion damage Josephson junctions

Title: Effect of barrier geometry for HTS ion damage Josephson junctions
Authors: Ouanani, S.; Crete, D.; Kermorvant, J.; Lemaitre, Y.; Marcilhac, B.; Mage, J.C.; Lesueur, J.; Bergeal, N.; Feuillet-Palma, C.; Ulysse, C.; Mailly, D.
Source: 2013 IEEE 14th International Superconductive Electronics Conference (ISEC) Superconductive Electronics Conference (ISEC), 2013 IEEE 14th International. :1-3 Jul, 2013
Relation: 2013 IEEE 14th International Superconductive Electronics Conference (ISEC)
Database: IEEE Xplore Digital Library