Katalog Plus
Bibliothek der Frankfurt UAS
Bald neuer Katalog: sichern Sie sich schon vorab Ihre persönlichen Merklisten im Nutzerkonto: Anleitung.
Dieses Ergebnis aus IEEE Xplore Digital Library kann Gästen nicht angezeigt werden.  Login für vollen Zugriff.

Test data analytics — Exploring spatial and test-item correlations in production test data

Title: Test data analytics — Exploring spatial and test-item correlations in production test data
Authors: Hsu, Chun-Kai; Lin, Fan; Cheng, Kwang-Ting; Zhang, Wangyang; Li, Xin; Carulli, John M.; Butler, Kenneth M.
Source: 2013 IEEE International Test Conference (ITC) Test Conference (ITC), 2013 IEEE International. :1-10 Sep, 2013
Relation: 2013 IEEE International Test Conference (ITC)
Database: IEEE Xplore Digital Library