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Reliability of nanocrystalline diamond MEMS capacitive switches

Title: Reliability of nanocrystalline diamond MEMS capacitive switches
Authors: Michalas, L.; Saada, S.; Koutsoureli, M.; Mer, C.; Leuliet, A.; Martins, P.; Bansropun, S.; Papaioannou, G.; Bergonzo, P.; Ziaei, A.
Source: 2013 European Microwave Integrated Circuit Conference Microwave Integrated Circuits Conference (EuMIC), 2013 European. :364-367 Oct, 2013
Relation: 2013 European Microwave Integrated Circuit Conference (EuMIC)
Database: IEEE Xplore Digital Library