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Manufacturing and reliability of chip-scale packaged FBAR oscillators

Title: Manufacturing and reliability of chip-scale packaged FBAR oscillators
Authors: Gilbert, Stephen R.; Small, Martha; Parker, Reed; Callaghan, Lori; Ortiz, Steve; Bi, Frank; Kekoa, Lexie; Tan, Jackie; Alias, Norashaz Bin; Ong, Gerald; Chen, Choon Chowe; Ruby, Rich
Source: 2014 IEEE International Ultrasonics Symposium Ultrasonics Symposium (IUS), 2014 IEEE International. :89-92 Sep, 2014
Relation: 2014 IEEE International Ultrasonics Symposium (IUS)
Database: IEEE Xplore Digital Library