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Cost-driven statistical analysis for selection of alternative measurements of analog circuits

Title: Cost-driven statistical analysis for selection of alternative measurements of analog circuits
Authors: Verdy, Matthieu; Ratiu, Alin; Morche, Dominique; De Foucauld, Emeric; Lesecq, Suzanne; Mallet, Jean-Pascal; Mayor, Cedric
Source: 2014 21st IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS) Electronics, Circuits and Systems (ICECS), 2014 21st IEEE International Conference on. :104-107 Dec, 2014
Relation: 2014 21st IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS)
Database: IEEE Xplore Digital Library