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On the origin of low-frequency noise of submicron Graded-Channel fully depleted SOI nMOSFETs

Title: On the origin of low-frequency noise of submicron Graded-Channel fully depleted SOI nMOSFETs
Authors: Molto, A. R.; Doria, R. T.; de Souza, M.; Pavanello, M. A.
Source: 2015 30th Symposium on Microelectronics Technology and Devices (SBMicro) Microelectronics Technology and Devices (SBMicro), 2015 30th Symposium on. :1-4 Aug, 2015
Relation: 2015 30th Symposium on Microelectronics Technology and Devices (SBMicro)
Database: IEEE Xplore Digital Library