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Detailed analysis of transport properties of FinFETs through Y-Function method: Effects of substrate orientation and strain

Title: Detailed analysis of transport properties of FinFETs through Y-Function method: Effects of substrate orientation and strain
Authors: Ribeiro, T. A.; Simoen, E.; Claeys, C.; Martino, J.A.; Pavanello, M. A.
Source: 2015 30th Symposium on Microelectronics Technology and Devices (SBMicro) Microelectronics Technology and Devices (SBMicro), 2015 30th Symposium on. :1-4 Aug, 2015
Relation: 2015 30th Symposium on Microelectronics Technology and Devices (SBMicro)
Database: IEEE Xplore Digital Library