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H2 annealing for metallic contaminant reduction in BCD-SOI process: Benefits and drawbacks

Title: H2 annealing for metallic contaminant reduction in BCD-SOI process: Benefits and drawbacks
Authors: Ghidini, Gabriella; Merlini, Daniele; Cannavo, Massimiliano; Polignano, Maria Luisa; Mica, Isabella; Galbiati, Amos; Zullino, Lucia; Turconi, Riccardo; Grasso, Salvatore; Moroni, Maurizio; Codegoni, Davide
Source: 2015 45th European Solid State Device Research Conference (ESSDERC) Solid State Device Research Conference (ESSDERC), 2015 45th European. :294-297 Sep, 2015
Relation: ESSDERC 2015 - 45th European Solid-State Device Research Conference
Database: IEEE Xplore Digital Library