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Insulation Issues in Punch-Through Biased Silicon Microstrip Sensors

Title: Insulation Issues in Punch-Through Biased Silicon Microstrip Sensors
Authors: Giacomini, G.; Bosisio, L.; Rashevskaya, I.
Source: IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 63(1):422-426 Feb, 2016
Database: IEEE Xplore Digital Library