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Analysis of carrier mobility in triple gate SOI nFinFET combining rotated substrate and strain

Title: Analysis of carrier mobility in triple gate SOI nFinFET combining rotated substrate and strain
Authors: Ribeiro, T. A.; Simoen, E.; Claeys, C.; Martino, J. A.; Pavanello, M. A.
Source: 2016 31st Symposium on Microelectronics Technology and Devices (SBMicro) Microelectronics Technology and Devices (SBMicro), 2016 31st Symposium on. :1-4 Aug, 2016
Relation: 2016 31st Symposium on Microelectronics Technology and Devices (SBMicro)
Database: IEEE Xplore Digital Library