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Cross-layer system reliability assessment framework for hardware faults

Title: Cross-layer system reliability assessment framework for hardware faults
Authors: Vallero, A.; Savino, A.; Politano, G.; Di Carlo, S.; Chatzidimitriou, A.; Tselonis, S.; Kaliorakis, M.; Gizopoulos, D.; Riera, M.; Canal, R.; Gonzalez, A.; Kooli, M.; Bosio, A.; Di Natale, G.
Source: 2016 IEEE International Test Conference (ITC) Test Conference (ITC), 2016 IEEE International. :1-10 Nov, 2016
Relation: 2016 IEEE International Test Conference (ITC)
Database: IEEE Xplore Digital Library