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Cryogenic Characterization of FBK HD Near-UV Sensitive SiPMs

Title: Cryogenic Characterization of FBK HD Near-UV Sensitive SiPMs
Authors: Acerbi, F.; Davini, S.; Ferri, A.; Galbiati, C.; Giovanetti, G.; Gola, A.; Korga, G.; Mandarano, A.; Marcante, M.; Paternoster, G.; Piemonte, C.; Razeto, A.; Regazzoni, V.; Sablone, D.; Savarese, C.; Zappala, G.; Zorzi, N.
Source: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 64(2):521-526 Feb, 2017
Database: IEEE Xplore Digital Library