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Modeling the Probabilities of Failures of 22 nm CMOS Logic Cells

Title: Modeling the Probabilities of Failures of 22 nm CMOS Logic Cells
Authors: Beg, Azam
Source: 2016 Third International Conference on Mathematics and Computers in Sciences and in Industry (MCSI) MCSI Mathematics and Computers in Sciences and in Industry (MCSI), 2016 Third International Conference on. :94-99 Aug, 2016
Relation: 2016 Third International Conference on Mathematics and Computers in Sciences and in Industry (MCSI)
Database: IEEE Xplore Digital Library