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Construction of coverage data for post-silicon validation using big data techniques

Title: Construction of coverage data for post-silicon validation using big data techniques
Authors: Mandouh, Eman El; Gamal, A.; Khaled, A.; Ibrahim, T.; Wassal, Amr G.; Hemayed, Elsayed
Source: 2017 24th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS) Electronics, Circuits and Systems (ICECS), 2017 24th IEEE International Conference on. :46-49 Dec, 2017
Relation: 2017 24th IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS)
Database: IEEE Xplore Digital Library