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Feasibility of picosecond electrical sampling using GaAs FET

Title: Feasibility of picosecond electrical sampling using GaAs FET
Authors: Hafdallah, H.; Ouslimani, A.; Adde, R.; Vernet, G.; Crozat, P.
Source: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement IEEE Trans. Instrum. Meas. Instrumentation and Measurement, IEEE Transactions on. 49(1):172-177 Feb, 2000
Database: IEEE Xplore Digital Library