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Impact of TCAD model parameters on optical and electrical characteristics of radiation-hard photodiode in 0.35bm CMOS technology

Title: Impact of TCAD model parameters on optical and electrical characteristics of radiation-hard photodiode in 0.35bm CMOS technology
Authors: Segmanovic, Filip; Roger, Frederic; Meinhardt, Gerald; Jonak-Auer, Ingrid; Suligoj, Tomislav
Source: 2018 41st International Convention on Information and Communication Technology, Electronics and Microelectronics (MIPRO) Information and Communication Technology, Electronics and Microelectronics (MIPRO), 2018 41st International Convention on. :0018-0022 May, 2018
Relation: 2018 41st International Convention on Information and Communication Technology, Electronics and Microelectronics (MIPRO)
Database: IEEE Xplore Digital Library