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In situ Observation of LIPSS Formation on Si Wafers under THz-FEL Irradiation

Title: In situ Observation of LIPSS Formation on Si Wafers under THz-FEL Irradiation
Authors: Nagashima, T.; Irizawa, A.; Hashida, M.; Higashiya, A.; Suga, S.; Sakabe, S.
Source: 2018 43rd International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz) Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz), 2018 43rd International Conference on. :1-2 Sep, 2018
Relation: 2018 43rd International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves (IRMMW-THz2018)
Database: IEEE Xplore Digital Library