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SyRA: Early System Reliability Analysis for Cross-Layer Soft Errors Resilience in Memory Arrays of Microprocessor Systems

Title: SyRA: Early System Reliability Analysis for Cross-Layer Soft Errors Resilience in Memory Arrays of Microprocessor Systems
Authors: Vallero, A.; Savino, A.; Chatzidimitriou, A.; Kaliorakis, M.; Kooli, M.; Riera, M.; Anglada, M.; Di Natale, G.; Bosio, A.; Canal, R.; Gonzalez, A.; Gizopoulos, D.; Mariani, R.; Di Carlo, S.
Source: IEEE Transactions on Computers IEEE Trans. Comput. Computers, IEEE Transactions on. 68(5):765-783 May, 2019
Database: IEEE Xplore Digital Library