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An analysis of program and erase operation for FC-SGT flash memory cells

Title: An analysis of program and erase operation for FC-SGT flash memory cells
Authors: Hioki, M.; Endoh, T.; Sakuraba, H.; Lenski, M.; Masuoka, F.
Source: 2000 International Conference on Simulation Semiconductor Processes and Devices (Cat. No.00TH8502) Simulation of semiconductor processes and devices Simulation of Semiconductor Processes and Devices, 2000. SISPAD 2000. 2000 International Conference on. :116-118 2000
Relation: 2000 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices
Database: IEEE Xplore Digital Library