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Low Voltage Transient RESET Kinetic Modeling of OxRRAM for Neuromorphic Applications

Title: Low Voltage Transient RESET Kinetic Modeling of OxRRAM for Neuromorphic Applications
Authors: Doevenspeck, J.; Degraeve, R.; Fantini, A.; Debacker, P.; Verkest, D.; Lauwereins, R.; Dehaene, W.
Source: 2019 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2019 IEEE International. :1-6 Mar, 2019
Relation: 2019 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
Database: IEEE Xplore Digital Library