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Evaluation of Standard Cell Architecture in 12LP FinFET Technology

Title: Evaluation of Standard Cell Architecture in 12LP FinFET Technology
Authors: Jain, Navneet; Balasubramaniam, Palanivel; Asra, Ram; Ahmed, Shibly; Kim, Juhan; Kim, Jeff; Machha, Sunil; Mudhireddy, Venkata Naresh; Lee, Luke; Todi, Ravi; Rashed, Mahbub
Source: 2019 Electron Devices Technology and Manufacturing Conference (EDTM) Electron Devices Technology and Manufacturing Conference (EDTM), 2019. :56-58 Mar, 2019
Relation: 2019 Electron Devices Technology and Manufacturing Conference (EDTM)
Database: IEEE Xplore Digital Library