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Thermal simulations of SiC MOSFETs under short-circuit conditions: influence of various simulation parameters

Title: Thermal simulations of SiC MOSFETs under short-circuit conditions: influence of various simulation parameters
Authors: Pascal, Yoann; Petit, Mickael; Labrousse, Denis; Costa, Francois
Source: 2019 IEEE International Workshop on Integrated Power Packaging (IWIPP) Integrated Power Packaging (IWIPP), 2019 IEEE International Workshop on. :137-142 Apr, 2019
Relation: 2019 IEEE International Workshop on Integrated Power Packaging (IWIPP)
Database: IEEE Xplore Digital Library