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Analysis of the Scattering Mechanisms in the Accumulation Layer of Junctionless Nanowire Transistors at High Temperature

Title: Analysis of the Scattering Mechanisms in the Accumulation Layer of Junctionless Nanowire Transistors at High Temperature
Authors: Ribeiro, T.A.; Pavanello, M. A.
Source: 2019 34th Symposium on Microelectronics Technology and Devices (SBMicro) Microelectronics Technology and Devices (SBMicro), 2019 34th Symposium on. :1-4 Aug, 2019
Relation: 2019 34th Symposium on Microelectronics Technology and Devices (SBMicro)
Database: IEEE Xplore Digital Library