Katalog Plus
Bibliothek der Frankfurt UAS
Bald neuer Katalog: sichern Sie sich schon vorab Ihre persönlichen Merklisten im Nutzerkonto: Anleitung.
Dieses Ergebnis aus IEEE Xplore Digital Library kann Gästen nicht angezeigt werden.  Login für vollen Zugriff.

Degradation of the luminance and impedance evolution analysis of an OLED under thermal and electrical stress

Title: Degradation of the luminance and impedance evolution analysis of an OLED under thermal and electrical stress
Authors: Al Haddad, Andrea; Canale, Laurent; Picot, Antoine; Zissis, Georges; Maussion, Pascal; Dupuis, Pascal
Source: IECON 2019 - 45th Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society Industrial Electronics Society, IECON 2019 - 45th Annual Conference of the IEEE. 1:4260-4267 Oct, 2019
Relation: IECON 2019 - 45th Annual Conference of the IEEE Industrial Electronics Society
Database: IEEE Xplore Digital Library