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Modeling and Demonstration of Oxygen Vacancy-Based RRAM as Probabilistic Device for Sequence Learning

Title: Modeling and Demonstration of Oxygen Vacancy-Based RRAM as Probabilistic Device for Sequence Learning
Authors: Doevenspeck, J.; Degraeve, R.; Fantini, A.; Debacker, P.; Verkest, D.; Lauwereins, R.; Dehaene, W.
Source: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 67(2):505-511 Feb, 2020
Database: IEEE Xplore Digital Library