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Cause and Effects of OFF-State Degradation in Hydrogen-Terminated Diamond MESFETs

Title: Cause and Effects of OFF-State Degradation in Hydrogen-Terminated Diamond MESFETs
Authors: De Santi, C.; Pavanello, L.; Nardo, A.; Verona, C.; Rinati, G.V.; Cannata, D.; Pietrantonio, F.D.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Source: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 67(10):4021-4026 Oct, 2020
Database: IEEE Xplore Digital Library