Katalog Plus
Bibliothek der Frankfurt UAS
Bald neuer Katalog: sichern Sie sich schon vorab Ihre persönlichen Merklisten im Nutzerkonto: Anleitung.
Dieses Ergebnis aus IEEE Xplore Digital Library kann Gästen nicht angezeigt werden.  Login für vollen Zugriff.

The lateral photovoltage scanning method (LPS): Understanding doping variations in silicon crystals

Title: The lateral photovoltage scanning method (LPS): Understanding doping variations in silicon crystals
Authors: Kayser, Stefan; Rotundo, Nella; Fuhrmann, Jurgen; Dropka, Natasha; Farrell, Patricio
Source: 2020 International Conference on Numerical Simulation of Optoelectronic Devices (NUSOD) Numerical Simulation of Optoelectronic Devices (NUSOD), 2020 International Conference on. :49-50 Sep, 2020
Relation: 2020 International Conference on Numerical Simulation of Optoelectronic Devices (NUSOD)
Database: IEEE Xplore Digital Library