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Finite-Length Bounds on Hypothesis Testing Subject to Vanishing Type I Error Restrictions

Title: Finite-Length Bounds on Hypothesis Testing Subject to Vanishing Type I Error Restrictions
Authors: Espinosa, S.; Silva, J.F.; Piantanida, P.
Source: IEEE Signal Processing Letters IEEE Signal Process. Lett. Signal Processing Letters, IEEE. 28:229-233 2021
Database: IEEE Xplore Digital Library