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Carrier Mobility Variation Induced by the Substrate Bias in Ω-gate SOI Nanowire MOSFETs

Title: Carrier Mobility Variation Induced by the Substrate Bias in Ω-gate SOI Nanowire MOSFETs
Authors: Bergamaschi, F. E.; Ribeiro, T. A.; Paz, B. C.; de Souza, M.; Barraud, S.; Casse, M.; Vinet, M.; Faynot, O.; Pavanello, M. A.
Source: 2019 IEEE SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S) SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S), 2019 IEEE. :1-3 Oct, 2019
Relation: 2019 IEEE SOI-3D-Subthreshold Microelectronics Technology Unified Conference (S3S)
Database: IEEE Xplore Digital Library