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Characterization of Dielectric Walls of Capacitors

Title: Characterization of Dielectric Walls of Capacitors
Authors: Gnonhoue, O. G.; Velazquez-Salazar, A.; Millard, L.; Joncas, S.; David, E.; Cormier, L.; Poudret, R.; Preda, I.
Source: 2020 IEEE 3rd International Conference on Dielectrics (ICD) Dielectrics (ICD), 2020 IEEE 3rd International Conference on. :653-656 Jul, 2020
Relation: 2020 IEEE 3rd International Conference on Dielectrics (ICD)
Database: IEEE Xplore Digital Library