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Space Radiation Effects on SiC Power Device Reliability

Title: Space Radiation Effects on SiC Power Device Reliability
Authors: Lauenstein, Jean-Marie; Casey, Megan C.; Ladbury, Ray L.; Kim, Hak S.; Phan, Anthony M.; Topper, Alyson D.
Source: 2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2021 IEEE International. :1-8 Mar, 2021
Relation: 2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
Database: IEEE Xplore Digital Library