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Multiscale System Modeling of Single-Event-Induced Faults in Advanced Node Processors

Title: Multiscale System Modeling of Single-Event-Induced Faults in Advanced Node Processors
Authors: Cannon, M.; Rodrigues, A.; Black, D.; Black, J.; Bustamante, L.; Breeding, M.; Feinberg, B.; Skoufis, M.; Quinn, H.; Clark, L.T.; Brunhaver, J.; Barnaby, H.; McLain, M.; Agarwal, S.; Marinella, M.J.
Source: IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 68(5):980-990 May, 2021
Database: IEEE Xplore Digital Library