Katalog Plus
Bibliothek der Frankfurt UAS
Bald neuer Katalog: sichern Sie sich schon vorab Ihre persönlichen Merklisten im Nutzerkonto: Anleitung.
Dieses Ergebnis aus IEEE Xplore Digital Library kann Gästen nicht angezeigt werden.  Login für vollen Zugriff.

Comments on “Study of Systematic Bias in Measuring Surface Deformation With SAR Interferometry”

Title: Comments on “Study of Systematic Bias in Measuring Surface Deformation With SAR Interferometry”
Authors: De Luca, C.; Casu, F.; Manunta, M.; Onorato, G.; Lanari, R.
Source: IEEE Transactions on Geoscience and Remote Sensing IEEE Trans. Geosci. Remote Sensing Geoscience and Remote Sensing, IEEE Transactions on. 60:1-5 2022
Database: IEEE Xplore Digital Library