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Analysis of Fin Width Influence on the Carrier´s Mobility of Nanowire MOSFETs

Title: Analysis of Fin Width Influence on the Carrier´s Mobility of Nanowire MOSFETs
Authors: Ccoto, C. U. C.; Bergamaschi, F. E.; Pavanello, M. A.
Source: 2021 35th Symposium on Microelectronics Technology and Devices (SBMicro) Microelectronics Technology and Devices (SBMicro), 2021 35th Symposium on. :1-4 Aug, 2021
Relation: 2021 35th Symposium on Microelectronics Technology and Devices (SBMicro)
Database: IEEE Xplore Digital Library