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On the Exponential Approximation of Type II Error Probability of Distributed Test of Independence

Title: On the Exponential Approximation of Type II Error Probability of Distributed Test of Independence
Authors: Espinosa, S.; Silva, J.F.; Piantanida, P.
Source: IEEE Transactions on Signal and Information Processing over Networks IEEE Trans. on Signal and Inf. Process. over Networks Signal and Information Processing over Networks, IEEE Transactions on. 7:777-790 2021
Database: IEEE Xplore Digital Library