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An In-Depth I/O Pattern Analysis in HPC Systems

Title: An In-Depth I/O Pattern Analysis in HPC Systems
Authors: Bang, Jiwoo; Kim, Chungyong; Wu, Kesheng; Sim, Alex; Byna, Suren; Sung, Hanul; Eom, Hyeonsang
Source: 2021 IEEE 28th International Conference on High Performance Computing, Data, and Analytics (HiPC) HIPC High Performance Computing, Data, and Analytics (HiPC), 2021 IEEE 28th International Conference on. :400-405 Dec, 2021
Relation: 2021 IEEE 28th International Conference on High Performance Computing, Data, and Analytics (HiPC)
Database: IEEE Xplore Digital Library