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Validating Optimized 22FDSOI Standard cells with Enhanced Design Rules

Title: Validating Optimized 22FDSOI Standard cells with Enhanced Design Rules
Authors: Jain, Navneet; Kim, Juhan; Kim, Jeff; Pant, Deepti; Ahmed, Shibly; Chan, Nigel; Rashed, Mahbub
Source: 2022 6th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM) Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), 2022 6th IEEE. :141-143 Mar, 2022
Relation: 2022 6th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM)
Database: IEEE Xplore Digital Library