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Heteroscedastic Gaussian Process Regression for ReRAM Device Modeling

Title: Heteroscedastic Gaussian Process Regression for ReRAM Device Modeling
Authors: Hossen, Imtiaz; Zang, Yi; Anders, Mark A.; Wang, Lin; Adam, Gina C.
Source: 2022 6th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM) Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), 2022 6th IEEE. :360-362 Mar, 2022
Relation: 2022 6th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM)
Database: IEEE Xplore Digital Library