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Compact Modeling of Nonideal Trapping/Detrapping Processes in GaN Power Devices

Title: Compact Modeling of Nonideal Trapping/Detrapping Processes in GaN Power Devices
Authors: Modolo, N.; De Santi, C.; Baratella, G.; Bettini, A.; Borga, M.; Posthuma, N.; Bakeroot, B.; You, S.; Decoutere, S.; Bevilacqua, A.; Neviani, A.; Meneghesso, G.; Zanoni, E.; Meneghini, M.
Source: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 69(8):4432-4437 Aug, 2022
Database: IEEE Xplore Digital Library