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A Study on Dominant Mechanism and Analytical Model of Low-Frequency Noise in FD-SOI pTFET

Title: A Study on Dominant Mechanism and Analytical Model of Low-Frequency Noise in FD-SOI pTFET
Authors: Shin, H.; Eadi, S.B.; Kim, S.; Ryu, T.; An, Y.; Kim, D.; Lee, H.; Kwon, H.
Source: IEEE Journal of the Electron Devices Society IEEE J. Electron Devices Soc. Electron Devices Society, IEEE Journal of the. 10:679-686 2022
Database: IEEE Xplore Digital Library