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1
von Huber, Robert ; Bakker, Martha ; Balmann, Alfons ; et al.
In Agricultural Systems November 2018 167:143-160
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2
von Langdorf, Mark I. ; Medak, Anthony J. ; Hendey, Gregory W. ; et al.
In Annals of Emergency Medicine December 2015 66(6):589-600
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3
von Kendall, Gerald M. ; Bithell, John F. ; Bunch, Kathryn J. ; et al.
British Journal of Cancer. 119(6):771-778
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4
von Li, Wei ; Zhang, Zhiying ; Bithell, Erica G. ; et al.
In Acta Materialia August 2013 61(13):4928-4938
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5
von O’Donnell, Kerry ; Gueidan, Cécile ; Sink, Stacy ; et al.
In Fungal Genetics and Biology 2009 46(12):936-948
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6
von Bithell, E. G. ; Eddleston, M. D. ; Merrill, C. A. ; et al.
EMC 2008 14th European Microscopy Congress 1–5 September 2008, Aachen, Germany : Volume 1: Instrumentation and Methods. :177-178
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7
von Bithell, E G ; Merrill, C A ; Midgley, P A
Journal of Physics: Conference Series ; volume 241, page 012025 ; ISSN 1742-6596
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8
von Bithell, E. G. ; Doole, R. C. ; Goringe, M. J. ; et al.
Physica Status Solidi (a) ; volume 146, issue 1, page 461-475 ; ISSN 0031-8965 1521-396X
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9
von Bithell, E. G. ; Stobbs, W. M.
Journal of Applied Physics. 2/15/1991, Vol. 69 Issue 4, p2149. 7p. 1 Chart, 4 Graphs.
Schlagworte: *SEMICONDUCTORS; *HETEROSTRUCTURES; *TRANSMISSION electron microscopy
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10
von Bithell, E. G. ; Stobbs, W. M. ; Phillips, C. ; et al.
Journal of Applied Physics. 2/1/1990, Vol. 67 Issue 3, p1279. 9p. 3 Black and White Photographs, 1 Diagram, 1 Chart, 6 Graphs.
Schlagworte: *ION implantation; *SELENIUM; *GALLIUM arsenide; *QUANTUM wells
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11
von Beldon, P. J. ; Tominaka, S. ; Singh, P. ; et al.
Chem. Commun. ; volume 50, issue 30, page 3955-3957 ; ISSN 1359-7345 1364-548X
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12
von Vincent, G ; Schwartz, P ; Denjoy, I ; et al.
Schlagworte: long qt syndrome, beta-blockers, drugs, long qt syndrome type 1; Settore MEDS-07/B - Malattie dell'apparato cardiovascolare; info:eu-repo/semantics/article
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13
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14
von Midgley, P. A. ; Eggeman, A. S. ; White, T. A. ; et al.
Midgley, P A, Eggeman, A S, White, T A & Bithell, E G 2009, 'Towards routine structure solution using precession electron diffraction', Microscopy and Microanalysis, vol. 15, no. SUPPL. 2, pp. 738-739. https://doi.org/10.1017/S1431927609093799
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15
von Evans, M. R. ; Bithell, M. ; Cornell, S. J. ; et al.
Schlagworte: Publication - Article; PeerReviewed
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16
von Humphreys, C J ; Bithell, E G
Electron Diffraction Techniques ; page 75-151 ; ISBN 9780198555582 9781383028492
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17
von Bithell, John F. ; Keegan, Thomas J. ; Kroll, M. E. ; et al.
Schlagworte: Journal Article; PeerReviewed
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18
von Bithell, John F. ; Keegan, Thomas J. ; Kroll, M. E. ; et al.
Schlagworte: Journal Article; PeerReviewed
-
19
von Bithell, E. G. ; Stobbs, W. M.
Philosophical Magazine B ; volume 63, issue 2, page 371-387 ; ISSN 1364-2812 1463-6417
- 20
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21
von Bithell, E. G. ; Stobbs, W. M.
Journal of Microscopy; 1989, Vol. 153 Issue 1, p39-49, 11p
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22
von Davies, R A ; Bithell, E G ; Chew, A ; et al.
Semiconductor Science and Technology ; volume 4, issue 1, page 35-40 ; ISSN 0268-1242 1361-6641
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23
von Bithell, E. G. ; Stobbs, W. M.
Philosophical Magazine A ; volume 60, issue 1, page 39-62 ; ISSN 0141-8610 1460-6992
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24
von Eddleston, Mark D. ; Hejczyk, Katarzyna E. ; Bithell, Erica G. ; et al.
Chemistry – A European Journal ; volume 19, issue 24, page 7883-7888 ; ISSN 0947-6539 1521-3765
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25
von Bithell, J. F. ; Keegan, T. J. ; Kroll, M. E. ; et al.
Schlagworte: Letter to the Editor
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