Volltext-Artikel, E-Books und Literaturhinweise aus dem EBSCO Discovery Service
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Analysis of Reverse Breakdown Mechanisms and Bias-Dependent Conduction Path Evolution in p-GaN HEMTs
von Lin, C. ; Lee, Y. ; Chen, P. ; et al.
IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 73(3):1285-1291 Mar, 2026
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IEEE Sensors Journal IEEE Sensors J. Sensors Journal, IEEE. 26(9):13145-13152 May, 2026
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von Belle ; Collaborations, Belle II ; Abumusabh, M. ; et al.
Schlagworte: High Energy Physics - Experiment
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von Belle ; Collaborations, Belle II ; Abumusabh, M. ; et al.
Schlagworte: High Energy Physics - Experiment
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von Akerib, D. S. ; Musalhi, A. K. Al ; Alder, F. ; et al.
Schlagworte: High Energy Physics - Experiment
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von Akerib, D. S. ; Musalhi, A. K. Al ; Alder, F. ; et al.
Schlagworte: Instrumentation and Detectors; High Energy Physics - Experiment
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von Armatol, A. ; Augier, C. ; Bergé, L. ; et al.
Schlagworte: Instrumentation and Detectors
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von Belle ; Collaborations, Belle II ; Abumusabh, M. ; et al.
Schlagworte: High Energy Physics - Experiment
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von Belle ; Collaborations, Belle II ; Abumusabh, M. ; et al.
Schlagworte: High Energy Physics - Experiment
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