Volltext-Artikel, E-Books und Literaturhinweise aus dem EBSCO Discovery Service
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1
von Merandat, Marc ; Reynaud, Vincent ; Valea, Emanuele ; et al.
2019 IEEE 4th International Verification and Security Workshop (IVSW) Verification and Security Workshop (IVSW), 2019 IEEE 4th International. :43-48 Jul, 2019
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2
von Lapeyre, Sébastien ; Valette, Nicolas ; Merandat, Marc ; et al.
ETS 2022 - 27th IEEE European Test Symposium ; https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-03739783 ; ETS 2022 - 27th IEEE European Test Symposium, May 2022, Barcelona, Spain. pp.1-4, ⟨10.1109/ETS54262.2022.9810364⟩
Schlagworte: challenge/response; JTAG; security; lightweight cryptographic hash; authentication; [INFO.INFO-AR]Computer Science [cs]/Hardware Architecture [cs.AR]
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3
von Lapeyre, Sébastien ; Valette, Nicolas ; Merandat, Marc ; et al.
15e Colloque National du GDR SoC²; https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-03361957; 15e Colloque National du GDR SoC², Jun 2021, Rennes, France
Schlagworte: Sureté; Sécurité; Capteurs Analogues; tests; Autotests; JTAG; authentification défi-réponse; cryptographie légère; [INFO.INFO-AR]Computer Science [cs]/Hardware Architecture [cs.AR]
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4
von Lapeyre, Sébastien ; Valette, Nicolas ; Merandat, Marc ; et al.
ETS 2021 - 26th IEEE European Test Symposium ; https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-03305266 ; ETS 2021 - 26th IEEE European Test Symposium, May 2021, Bruges, Belgium. pp.1-4, ⟨10.1109/ETS50041.2021.9465480⟩
Schlagworte: ACM: B.: Hardware/B.6: LOGIC DESIGN/B.6.2: Reliability and Testing/B.6.2.0: Built-in tests; ACM: B.: Hardware/B.6: LOGIC DESIGN/B.6.2: Reliability and Testing/B.6.2.4: Testability; [INFO.INFO-AR]Computer Science [cs]/Hardware Architecture [cs.AR]
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5
von Daga, Jean-Michel ; Papaix, Caroline ; Merandat, Marc ; et al.
ISSN: 2168-2356 ; IEEE Design & Test ; https://hal-lirmm.ccsd.cnrs.fr/lirmm-00269493 ; IEEE Design & Test, 2003, 20 (1), pp.68-75. ⟨10.1109/MDT.2003.1173055⟩.
Schlagworte: [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics
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