Bald neuer Katalog: sichern Sie sich schon vorab Ihre persönlichen Merklisten im Nutzerkonto: Anleitung.

Volltext-Artikel, E-Books und Literaturhinweise aus dem EBSCO Discovery Service

"Artikel & mehr" berücksichtigt nur einen Teil der für die Bibliothek der Frankfurt UAS verfügbaren Datenbanken. Zur Übersicht in DBIS

Ergebnis verändern

einschränken: Volltextzugriff; Academic (peer-reviewed) journals
erweitern: Auch Volltexte der Artikel durchsuchen; Verwandte Themen suchen

Publikationstyp

Thema

erschienen in

Verlag

Sprache

Datenbank

Erscheinungsjahr

Von:

Bis:

Treffer 1 - 12 von 12, Suchdauer: 0.35s

1
A 224Gb/s 3pJ/bit 42dB Insertion Loss Post-FEC Error Free Transceiver in 3-nm FinFET CMOS (Invited)

von Pfaff, Dirk ; Nummer, Muhammad ; Hai, Noman ; et al.

2025 IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC) Custom Integrated Circuits Conference (CICC), 2025 IEEE. :1-8 Apr, 2025
- Zum Volltext in IEEE Xplore
Merkliste

2
7.3 A 224Gb/s 3pJ/b 40dB Insertion Loss Transceiver in 3nm FinFET CMOS

von Pfaff, Dirk ; Nummer, Muhammad ; Hai, Noman ; et al.

2024 IEEE International Solid-State Circuits Conference (ISSCC) Solid-State Circuits Conference (ISSCC), 2024 IEEE International. 67:128-130 Feb, 2024
- Zum Volltext in IEEE Xplore
Merkliste

3
A 224 Gb/s 3 pJ/bit 40 dB Insertion Loss Transceiver in 3-nm FinFET CMOS

von Pfaff, Dirk ; Nummer, Muhammad ; Hai, Noman ; et al.

IEEE Journal of Solid-State Circuits ; volume 60, issue 1, page 9-22 ; ISSN 0018-9200 1558-173X
- Volltextverfügbarkeit prüfen (via ReDI)
Merkliste

4
DFT for Testing igh-Performance Pipelined Circuits with Slow-Speed Testers

von Nummer, Muhammad ; Sachdev, Manoj

Proceedings of the conference on Design, Automation and Test in Europe - Volume 1. :10212
- Volltextverfügbarkeit prüfen (via ReDI)
Merkliste

5
Experimental Results for Slow-speed Timing Characterization of High-speed Pipelined Datapaths

von Nummer, Muhammad ; Sachdev, Manoj

Journal of Electronic Testing: Theory and Applications. February 2011 27(1):9-17
- Zum Volltext (via ReDI)
Merkliste

6
A DFT Technique for Testing High-Speed Circuits with Arbitrarily Slow Testers

von Nummer, Muhammad ; Sachdev, Manoj

Journal of Electronic Testing: Theory and Applications. June 2003 19(3):299-314
- Zum Volltext (via ReDI)
Merkliste

7
Testing high-performance pipelined circuits with slow-speed testers

von Nummer, Muhammad ; Sachdev, Manoj

ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems ; volume 8, issue 4, page 506-521 ; ISSN 1084-4309 1557-7309
- Volltextverfügbarkeit prüfen (via ReDI)
Merkliste

8
Precise Timing of Digital Signals: Circuits and Applications

von Nummer, Muhammad

Schlagworte: Digital circuits; Delay circuits; Testing; Time-to-digital; Phase-alignment; Electrical and Computer Engineering
- Volltextverfügbarkeit prüfen (via ReDI)
Merkliste

9
DFT for Testing High-Performance Pipelined Circuits with Slow-Speed Testers

von Muhammad Nummer ; Manoj Sachdev ; The Pennsylvania State University CiteSeerX Archives

http://www.sigda.org/Archives/ProceedingArchives/Date/papers/2003/date03/htmfiles/sun_sgi/frames/./././pdffiles/03c_1.pdf.
- View full text via BASE
Merkliste

10
A DFT Technique for Testing High-Speed Circuits with Arbitrarily Slow Testers

von Muhammad Nummer ; Manoj Sachdev ; The Pennsylvania State University CiteSeerX Archives

https://ece.uwaterloo.ca/~cdr/pubs/High_JETTA_2003.pdf.

Schlagworte: delay-fault testing; high-performance testing; design for delay testability; built-in self test; controlled
- View full text via BASE
Merkliste

11
A DFT Technique for Testing High-Speed Circuits with Arbitrarily Slow Testers

von Muhammad A. Nummer ; The Pennsylvania State University CiteSeerX Archives

https://ece.uwaterloo.ca/~cdr/pubs/nummer_masc.pdf.

Schlagworte: Acknowledgements
- View full text via BASE
Merkliste

12
A DFT Technique for Testing High-Speed Circuits with Arbitrarily Slow Testers.

von Muhammad Nummer ; Manoj Sachdev

Journal of Electronic Testing; Jun2003, Vol. 19 Issue 3, p299-314, 16p
- Zum Volltext (via ReDI)
Merkliste

Sie haben nicht gefunden, wonach Sie gesucht haben? Diese Services können Ihnen weiterhelfen.
Hilfe & Kontakt ǀ Fernleihe | Hilfe zur Fernleihe ǀ Literaturvorschlag| Literaturvorschlag