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1
Electrical reliability and breakdown mechanisms in single-walled carbon nanotubes

von Strus, Mark C. ; Keller, Robert R. ; Barbosa, N.

2011 11th IEEE International Conference on Nanotechnology Nanotechnology (IEEE-NANO), 2011 11th IEEE Conference on. :715-719 Aug, 2011
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2
Interfacial energy between carbon nanotubes and polymers measured from nanoscale peel tests in the atomic force microscope

von Strus, Mark C. ; Cano, Camilo I. ; Byron Pipes, R. ; et al.

In Composites Science and Technology 2009 69(10):1580-1586
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3
Strain energy and lateral friction force distributions of carbon nanotubes manipulated into shapes by atomic force microscopy

von Strus, Mark C ; Lahiji, Roya R ; Ares, Pablo ; et al.

Nanotechnology ; volume 20, issue 38, page 385709 ; ISSN 0957-4484 1361-6528
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4
Accelerated reliability testing of highly aligned single-walled carbon nanotube networks subjected to DC electrical stressing

von Strus, Mark C ; Chiaramonti, Ann N ; Kim, Young Lae ; et al.

Nanotechnology ; volume 22, issue 26, page 265713 ; ISSN 0957-4484 1361-6528
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5
Corrigendum to “Interfacial energy between carbon nanotubes and polymers measured from nanoscale peel tests in the atomic force microscope” [Compos Sci Technol 69 (10) (2009) 1580–1586]

von Strus, Mark C. ; Cano, Camilo I. ; Byron Pipes, R. ; et al.

Composites Science and Technology ; volume 71, issue 8, page 1180 ; ISSN 0266-3538
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6
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7
Interfacial energy between carbon nanotubes and polymers measured from nanoscale peel tests in the atomic force microscope

von Strus, Mark C ; Cano, Camilo I ; Pipes, R. Byron ; et al.

Other Nanotechnology Publications

Schlagworte: nanoscale peeling; carbon nanotubes; polymer nanocomposites; interfacial fracture energy; atomic force microscope; surface energy; Applied Mechanics; Materials Science and Engineering; Mechanical Engineering; Nanoscience and Nanotechnology; Polymer and Organic Materials
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8
Identification of multiple oscillation states of carbon nanotube tipped cantilevers interacting with surfaces in dynamic atomic force microscopy

von Strus, Mark C. ; Raman, Arvind

Physical Review B ; volume 80, issue 22 ; ISSN 1098-0121 1550-235X
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9
Imaging artefacts in atomic force microscopy with carbon nanotube tips

von Strus, Mark C ; Raman, Arvind ; Nguyen, C. V

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