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Influence of Temperature on Electron Transport, Current-Voltage Characteristics, and Capacitive Properties of MIM Nanostructures with Amorphous Niobium Pentoxide

von Vyacheslav Alekseevich Moshnikov ; Ekaterina Nikolaevna Muratova ; Igor Alfonsovich Vrublevsky ; et al.

Applied Nano, Vol 7, Iss 1, p 8 (2026)

Schlagworte: electron transport layer; niobium pentoxide; amorphous structure; Schottky barrier height; space-charge-limited current (SCLC); electron traps; Technology
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