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von Vyacheslav Alekseevich Moshnikov ; Ekaterina Nikolaevna Muratova ; Igor Alfonsovich Vrublevsky ; et al.
Applied Nano ; Volume 7 ; Issue 1 ; Pages: 8
Schlagworte: electron transport layer; niobium pentoxide; amorphous structure; Schottky barrier height; space-charge-limited current (SCLC); electron traps; dipole-relaxation polarization; relaxation time
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